BC/NW 2007, №1, (10) :2.1

 

ПРОГРАММА ТЕСТИРОВАНИЯ ВНЕШНЕЙ ПАМЯТИ

ПРОЦЕССОРА TMS320VC5510

 

Г.М. Александров, В.А. Логинов,

 

(Москва, Московский энергетический институт (технический университет), Россия)

 

При производстве устройств цифровой техники после проведения поверхностного монтажа печатных плат необходимо проверять их на работоспособность. Это имеет огромное значение, поскольку именно на стадии производства нужно обнаруживать максимум брака, чтобы неисправное изделие не попало на рынок. В производстве всегда имеется некоторый процент брака, поэтому оборудование необходимо проверять на работоспособность еще на стадии производства.

В данной работе решается задача тестирования микросхемы памяти, расположенной на базовой станции. Рассматриваемая базовая станция предназначена для организации радиоканала, обеспечивающего доступ к абонентским устройствам (радиоблокам).

Проектируемое устройство представляет собой печатную плату с радиоэлементами. В данной работе рассматривается часть устройства, в которую входят микропроцессор TMS320vc5510, микросхема памяти типа SDRAM MT48LC4M16A2-7E и ПЛИС фирмы XILINX XC9572XL-7VQ64C.

Через JTAG-порт имеется доступ к микропроцессору и ПЛИС. Однако проверить SDRAM с помощью JTAG-порта напрямую не представляется возможным. В работе предложен вариант проверки работоспособности SDRAM. Через JTAG-порт в микропроцессор записывается программа тестирования для микросхемы памяти, а результат тестирования в виде кодов ошибок записывается в сдвиговый регистр, который сконфигурирован на ПЛИС XILINX. Затем через JTAG-порт можно получить этот результат уже непосредственно из ПЛИС.

Для реализации подобной методики проверки решен  ряд задач, связанных с организацией интерфейса:

- исследован способ взаимодействия микропроцессора и микросхемы памяти;

- разработана программа, управляющая процессом тестирования;

- разработан способ вывода результатов проверки.